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  • レーザー生成ゲルマニウムプラズマの時間積分光放出研究

    2018-09-17

    我々は、qスイッチnd:yagレーザー(1064nm)、約5×109wcm-2までの出力密度、および5つの分光器のセットを用いて、レーザー生成ゲルマニウムプラズマの発光スペクトルに関する新しい時間積分データを提示する200nmから720nmまでのスペクトル範囲をカバーする。中性ゲルマニウムの4p5s→4p2遷移アレイと単一イオン化ゲルマニウムのいくつかの多重点のため、高分解能構造が観察されている。プラズマ温度は、4つの異なる技術を用いて(9000〜11000)kの範囲で決定されている。ボルツマン・プロット、サハ・ボルツマン・プロット、マロッタの手法を用いたが、電子密度は、(0.5-5.0)×1017cm-3の範囲の急激な広がりを持つ線プロファイルから推測されている。ゲルマニウムプラズマ。実験的に観察されたラインプロファイルに対するローレンツフィット(lorentzian fit)によって、多数のニュートラルおよび単一イオン化ゲルマニウムラインの半値全幅(fwhm)が抽出されている。さらに、4p5s 3p0,1,2→4p2 3p0,1,2マルチプレットの実験的に測定された相対線強度を、ls-カップリングスキームで計算されたものと比較して、中間カップリングスキームがレベル指定に適していることを明らかにしたゲルマニウム中。 ソース:iopscience 詳細については、当社のウェブサイトをご覧ください: http://www.semiconductorwafers.net 、 私達に電子メールを送ってください angel.ye@powerwaywafer.com または powerwaymaterial@gmail.com 。

  • ガースピンエピウェハ

    2017-09-16

    フィン用ingaas / inpエピウェハ 次のようにピン用に2 \"インガサ/イン・エピ・ウェハを提供することができます: inp基板: inp方向:(100) Feでドープされた、半絶縁性の ウェーハサイズ:直径2インチ 比抵抗:\u003e 1×10 ^ 7)Ω・cm epd:\u003c1×10 4 / cm 2 片面研磨。 エピ層: inxga1-xas nc\u003e 2×10 18 / cc(ド​​ーパントとしてSiを使用)、 厚さ:0.5μm(±20%) エピ層の粗さ、ra \u003c0.5nm ソース:semiconductorwafers.net 詳細については、当社のウェブサイトをご覧ください: http://www.semiconductorwafers.net 、 私達に電子メールを送ってください angel.ye@powerwaywafer.com または powerwaymaterial@gmail.com 。

  • 780nmレーザーウェーハ

    2017-09-05

    xiamen powerway(pam-xiamen)は、780nmのAlgainp / Gaaレーザー構造ウェーハを提供する化合物半導体エピタキシャルウェーハの開発および製造をリードしています。 層 材料 バツ y歪み耐性 pl 厚さ タイプ レベル         (ppm) (nm) (um)   (cm -3) 8 ガウス         0.1 p > 2.00e19 7 ゲイン(x)p 0.49   +/- 500   0.05 p   6 [(y)pの中の[al(x)ga] 0.3 0.49 +/- 500   1 p   5 ゲイン(x)p 0.49   +/- 500   0.5 ユー/ d   4 ガース(x)p 0.77     770   ユー/ d   3 ゲイン(x)p 0.49   +/- 500   0.5 ユー/ d   2 [(y)pの中の[al(x)ga] 0.3 0.49 +/- 500   1 n   1 ガウス         0.5 n   ガウス基板           n   ソース:semiconductorwafers.net 詳細については、当社のウェブサイトをご覧ください: http://www.semiconductorwafers.net 、 私達に電子メールを送ってください angel.ye@powerwaywafer.com または powerwaymaterial@gmail.com 。

  • ダイヤモンドウェーハ

    2017-09-03

    サーマルグレードのダイヤモンドウェーハとスライス ダイヤモンドは、すべての材料の中で最も高い熱伝導率を示します。その熱 導電率は2000w / mkまでで銅のそれよりもはるかに高い。したがって、 ダイヤモンドウェーハとスライスは熱管理においてますます普及しています。 ヒートシンク、ヒートシンク、リソグラフィによってパターン化された金属化、電気的絶縁 トップとボトムメタライゼーションの間、ストレスフリー実装のためのストレスリリーフスリットなど 様々な形状のcvdダイヤモンドヒートスプレッダ、および典型的なパラメータは、 以下: 材料熱伝導率\u003e 1000w / mk 直径70mmまで 表面研磨、ラッピング、as-cut 厚さ100~1500μm ヤング率1000-1100gpa 密度3.5g / cm 3 光学グレードのダイヤモンドウェーハ 光学グレードのダイヤモンドウェーハは、赤外線ビームスプリッタ用の窓として、 テラヘルツ分光法およびCO 2レーザー手術、マルチスペクトルのためのブリュースター窓 自由電子レーザー、多波長赤外線レーザーまたはテラヘルツ光 システム、ダイヤモンド液体セルのための減衰全反射)分光法。 大型ダイヤモンド基板 長年にわたりトップインダストリアルジュエルパーツのサプライヤーとして知られていましたが、光学部品、ヒートスプレッダー、オーディオパーツを製造するポスト半導体用の14mm * 14mm単結晶ダイヤモンド基板を量産した際に、量子コンピュータ。現在、当社は特許取得済みのマイクロニードル成長技術により約1インチ角の基板を製造することができ、クラックのない大型ダイヤモンド基板を安定して製造することができます。この技術を続けて、基板製品のサイズを最大50mm * 50mm(2インチ四方)まで拡大することを約束しました。 キーワード:ダイヤモンドウェーハ、ダイヤモンドウェーハ ソース:semiconductorwafers.net 詳細については、当社のウェブサイトをご覧ください: http://www.semiconductorwafers.net 、 私達に電子メールを送ってください angel.ye@powerwaywafer.com または powerwaymaterial@gmail.com 。

  • inas(砒化インジウム)ウェハ

    2017-09-01

    pam-xiamenは、直径2インチまでのオプトエレクトロニクス産業にウェーハ(インジウム砒素)を供給します。 inas結晶は、純粋な6n型元素で形成された化合物であり、エピタキシャル成長を伴う液体カプセル化チョクラルスキー(lec) 15000cm -3である。 inas結晶は、mbeまたはmocvdエピタキシャル成長に適した、電気パラメータの高い均一性および低い欠陥密度を有する。 厳密またはオフの配向、低または高ドープの濃度および表面仕上げで幅広い選択肢を有する「エピ準備完了」製品を有する。製品の詳細についてはお問い合わせください。 1)2 \"inas タイプ/ドーパント:n / s 配向:[111b]±0.5° 厚さ:500±25um エピレディ ssp 2)2 \"inas タイプ/ドーパント:n /アンドープ 配向:(111)b 厚さ:500um±25um ssp 3)2 \"inas タイプ/ドーパント:nドープされていない 配向:±0.5° 厚さ:500um±25um エピレディ ra≦0.5nm キャリア濃度(cm -3):1e16〜3e16 移動度(cm -2):\u003e 20000 epd(cm -2):\u003c15000 ssp 4)2 \"inas タイプ/ドーパント:n /アンドープ オリエンテーション:[001] o.f。 厚さ:2mm カットとして 5)2 \"inas タイプ/ドーパント:n / p 配向:(100)、 キャリア濃度(cm -3):( 5-10)e 17、 厚さ:500μm ssp すべてのウェーハは、高品質のエピタキシ準備完了仕上げで提供されます。表面は、サーフスキャンヘイズおよび粒子モニタリング、分光エリプソメトリーおよび斜入射干渉法を含む社内の高度な光学計測技術によって特徴付けられる n型(100)のウエハ内の表面電子蓄積層の光学特性にアニール温度が及ぼす影響をラマン分光法で調べた。それは、温度が上昇するにつれて非遮蔽ロフォノンによる散乱によるラマンピークが消失することを示し、これは、表面の電子蓄積層がアニーリングによって除去されることを示す。 X線光電子分光法、X線回折および高分解能透過電子顕微鏡法により、関与する機構を分析した。その結果、アニール時に非晶質のIn2O3およびAs2O3相がinas表面に形成され、一方、酸化層とウエハとの界面の薄い結晶質層も生成され、これは表面電子蓄積の厚さを減少させるなぜなら、原子がアクセプタ型表面状態を導入するからである。 相対的な製品: inasウェハ インベストウェーハ inpウェハ ガウスウェーハ ガスウエハー ギャップウェーハ ソース:semiconductorwafers.net 詳細については、当社のウェブサイトをご覧ください: http://www.semiconductorwafers.net 、 私達に電子メールを送ってください angel.ye@powerwaywafer.com または powerwaymaterial@gmail.com 。...

  • インジウムアンチモン(insb)単一基板

    2017-08-25

    xiamen powerway advanced material co。、ltd(pam-xiamen)は、高度に精製されたゾーン精製された多結晶インゴットから改良されたチョクラルスキー法によって成長した直径3インチまでのインクリスタルウェーハを提供しています。 1)2 \"insb 配向:(100) タイプ/ドーパント:n /アンドープ 直径:50.8mm 厚さ:300±25μm;500μm nc:\u003c2e14a / cm3 ポリッシュ:ssp 2)2 \"insb 配向:(100) タイプ/ドーパント:n / te 直径:50.8mm キャリア濃度:0.8〜2.1×10 15 cm -3 厚さ:450±25μm; 525±25μm epd< 200cm-2 ポリッシュ:ssp 3)2 \"insb 配向:(111)+ 0.5° 厚さ:450 +/-50μm タイプ/ドーパント:n /アンドープ キャリア濃度: 5×10 14 cm -3 epd< 5×103cm-2 表面粗さ: 15a ボウ/ワープ: 30 um ポリッシュ:ssp 4)2インチ 配向:(111)+ 0.5° タイプ/ドーパント:p / ge ポリッシュ:ssp 5)2 \"insb 厚さ:525±25μm、 配向:[111a]±0.5° タイプ/ドーパント:n / te ro =(0.020-0.028)ohmcm、 nc =(4-8)e14cm-3 / cc、 u =(4.05e5-4.33e5)cm2 / vs、 epd \u003c100 / cm 2、 移動性:4e5cm2 /対 1つの側縁。 (a)面:化学機械的に最終研磨して0.1μm(最終研磨)、 sb(b)面:化学機械的に最終研磨されて\u003c5μm(ラスターマーク)、 注:ncとモビリティは77ºkです。 ポリッシュ:ssp; dsp 6)2 \"ガスボンベ 厚さ:525±25μm、 配向:[111b]±0.5°、 タイプ/ドーパント:p /アンドープ、n /アンドープ ポリッシュ:ssp; dsp 表面状態およびその他の仕様 インジウム・アンチモン(insb)ウェハは、ドーピング濃度および厚さの広い範囲の切断された、エッチングされたまたは研磨された仕上げのウェハとして提供することができる。ウェーハは高品質のエピレディ仕上げである可能性がある。 方向指定 ウェーハの面方位は、3軸X線回折計システムを使用して+/- 0.5度の精度で供給される。基板は、成長面からどの方向にも非常に正確な方向のずれを供給することができる。利用可能な方向は、(100)、(111)、(110)または他の方向または誤った程度であり得る。 パッケージング状態 研磨されたウェーハ:不活性雰囲気中で2つの外側バッグに個別に封止される。必要に応じてカセットの出荷が可能です)。 切断されたウェーハ:カセット出荷。 (ご要望に応じてグラスバッグをご用意しています)。 単語wiki インジウムアンチモン(insb)ウェーハは、インジウム(In)およびアンチモン(sb)からなる結晶性化合物である。熱画像カメラ、フラワーシステム、赤外線原発ミサイルガイドシステム、赤外線天文学などの赤外線検出器で使用されるiii-vグループの狭いギャップの半導体材料です。アンチモン化インジウムアンチモン検出器は、1〜5μmの波長の間で感度がある。インジウムアンチモンは、古い単一検出器の機械的に走査された熱画像形成システムにおいて非常に一般的な検出器であった。別のアプリケーションは、テラヘルツ放射源として、それは強力なフォトデベンエミッタであるためです。 相対的な製品: inasウェハ インベストウェーハ inpウェハ ガウスウェーハ ガスウエハー ギャップウェーハ ソース:semiconductorwafers.net 詳細については、当社のウェブサイトをご覧ください: http://www.semiconductorwafers.net 、 私達に電子メールを送ってください angel.ye@powerwaywafer.com または powerwaymaterial@gmail.com 。...

  • inpエピタキシャルウェーハ

    2017-08-22

    リン化インジウム(inp)は、光学システムがデータセンター、モバイルバックホール、メトロおよび長距離アプリケーションに必要な性能を提供することを可能にする重要な半導体材料です。 inp上に作製されたレーザ、フォトダイオードおよび導波路は、効率的なファイバ通信を可能にするガラスファイバの最適透過窓で動作する。 pam-xiamen独自のエッチングされたファセット技術(eft)は、従来の半導体製造と同様にウェーハレベルのテストを可能にします。 eftは高収率、高性能、信頼性の高いレーザーを可能にします。 1)2インチのウェハー 配向:±0.5° タイプ/ドーパント:n / s; n / un-doped 厚さ:350±25mm モビリティ:\u003e 1700 キャリア濃度:(2〜10)e17 epd:\u003c50000cm ^ -2 磨かれた:ssp 2)1インチ、2インチinpウェハ 配向:±0.5° タイプ/ドーパント:n /ドープされていない 厚さ:350±25mm モビリティ:\u003e 1700 キャリア濃度:(2〜10)e17 epd:\u003c50000cm ^ -2 磨かれた:ssp 3)1インチ、2インチinpウェハ 配向:±0.5° タイプ/ドーパント:n / s; n / un-doped 厚さ:350±25mm 磨かれた:ssp 4)2 \"inpウェハ 配向:b±0.5° タイプ/ドーパント:n / te; n /アンドープ 厚さ:400±25mm; 500±25mm 磨かれた:ssp 5)2 \"inpウェハ 配向:(110)±0.5° タイプ/ドーパント:p / zn; n / s 厚さ:400±25mm ポリッシュ:ssp / dsp 6)2 \"inpウェハ 配向:(211)b;(311)b タイプ/ドーパント:n / te 厚さ:400±25mm ポリッシュ:ssp / dsp 7)2インチinpウェハ 配向:(100)2°オフ+/- 0.1°t.n. (110) タイプ/ドーパント:si / fe 厚さ:500±20mm 磨かれた:ssp 8)2インチサイズのIna / InPエピタキシャルウェーハを使用しており、カスタム仕様を受け入れています。 基板:(100)inp基板 エピ層1:in0.53ga0.47as層、undoped、厚さ200nm エピ層2:in0.52al0.48as層、undoped、厚さ500nm エピ層3:in0.53ga0.47as層、undoped、厚さ1000nm 上層:in0.52al0.48as層、undoped、厚さ50nm xiamen powerway advanced material co。、ltd(pam-xiamen)は、業界で最も純度の高いingaas / inpエピタキシャルウェーハを提供しています。高速、長波長イメージング、高速hbtおよびhemts、apdsおよびアナログ - デジタル変換に理想的な1.7〜2.6μmの波長で最高4インチまでの高品質インジウム・リン・エピタキシャル・ウェーハをカスタマイズして製造するための高度な製造プロセスが導入されています。デジタル変換回路。 inaベースのコンポーネントを使用するアプリケーションは、gaaまたはsigeベースのプラットフォームで構成された同様のコンポーネントと比較して、伝送速度を大幅に超える可能性があります。 相対的な製品: inasウェハ インベストウェーハ inpウェハ ガウスウェーハ ガスウエハー ギャップウェーハ ソース:semiconductorwafers.net 詳細については、当社のウェブサイトをご覧ください: http://www.semiconductorwafers.net 、 私達に電子メールを送ってください angel.ye@powerwaywafer.com または powerwaymaterial@gmail.com 。...

  • エピタキシャルウェーハ

    2017-08-17

    製品 mocvdとmbe技術のおかげで、エピタキシャルウェーハサプライヤであるpam-xiamenは、ganエピタキシャルウェーハ、gaエピタキシャルウェーハ、sicエピタキシャルウェーハ、inpエピタキシャルウェーハなどのエピタキシャルウェーハ製品を提供しています。 1)サファイアテンプレート上へのエピタキシャル成長; 伝導型:Siドープ(n +) 厚さ:4μm、20μm、30μm、50μm、100μm 配向:c軸(0001)±1.0° 比抵抗:\u003c0.05オーム・cm 転位密度:\u003c1×10 8 cm -2 基板構造:gan on sapphire(0001) 表面仕上げ(ガーフェイス):as-grown 裏面仕上げ:sspまたはdsp 使用可能領域:≥90% 使用可能なサイズ:2インチ(50.8 mm)、3インチ(76.2 mm)および4インチ(100 mm) 利用可能な成績:生産、研究、ライダー 2)サファイアテンプレート上のalnエピタキシャル成長。 導電型:半絶縁性 厚さ:50~1000nm±10% 配向:c軸(0001)+/- 1o オリエンテーションフラット:a面 xrd fwhm of(0002):\u003c200arcsec サブストレート構造:aln on sapphire 裏面仕上げ:sspまたはdsp、epi-ready 使用可能領域:≥90% 利用可能なサイズ:2インチ(50.8 mm) 利用可能な成績:生産、研究、ライダー 3)裾構造を含むサファイア上のアルガンエピタキシャル成長。 導電型:半絶縁性 厚さ:50~1000nm±10% 配向:c軸(0001)+/- 1o オリエンテーションフラット:a面 xrd fwhm of(0002):\u003c200arcsec 基板構造:サファイア上のアルガン 裏面仕上げ:sspまたはdsp、epi-ready 使用可能領域:≥90% 利用可能なサイズ:2インチ(50.8 mm) 利用可能な成績:生産、研究、ライダー 4)ガウス基板上のガウスエピ層 直径(mm):Ф50.8mm±1mm 厚さ:1-2umまたは2-3um マルコ欠陥密度:≦5cm-2 比抵抗(300k):\u003e 108ohm-cm キャリア:\u003c0.5ps 転位密度:\u003c1×10 6 cm -2 使用可能な表面積:≧80% 研磨:片面研磨 基板:ガス基板 5)ガリウムショットキーダイオードエピタキシャルウェーハ エピタキシャル  構造 いいえ。 材料 組成 厚さ  目標(um) 厚さtol。 1 ±10% \u003e 5.0e18 該当なし シ n ++ 3 ガウス   ガ 1-x アル バツ として x = 0.50 1 ±10% - 該当なし - - 1 ガウス  

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